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两步法快速退火对PMN-PT薄膜结构和性能的影响
  • ISSN号:1001-9731
  • 期刊名称:功能材料
  • 时间:0
  • 页码:1441-1444
  • 分类:TM223[电气工程—电工理论与新技术;一般工业技术—材料科学与工程]
  • 作者机构:[1]四川大学材料科学与工程学院,四川成都610064
  • 相关基金:国家自然科学基金资助项目(60771016)
  • 相关项目:热释电薄膜型非制冷红外焦平面阵列若干关键技术研究
中文摘要:

采用射频磁控溅射法在LaNiO3(100)/SiO2/Si(100)衬底上制备了0.65Pb(Mg1/3Nb2/3)O3-0.35PbTiO3(PMN-PT)铁电薄膜,采用两步法快速退火法对制备的PMN-0.35PT薄膜进行了不同工艺的后处理。实验结果表明,在LaNiO3上溅射的PMN-PT薄膜呈现高度的(100)取向。对PMN-PT薄膜测试表明,在合适的两步法快速退火处理时,可以获得表面平整颗粒饱满,且铁电性能很好的薄膜,其剩余极化强度(2Pr)可以达到24μC/cm2,平均粗糙度为7.4nm,在室温1kHz的测试频率下,εr和tanδ分别为545和0.062。

英文摘要:

The 0.65Pb(Mg1/3Nb2/3)O3-0.35PbTiO3(PMN-PT) thin films was prepared on LaNiO3(100)/SiO2/Si(100) substrate via a RF magnetron sputtering method.The PMN-PT thin films were post-annealed by two-step rapid thermal anneal in different conditions.It was indicated that PMN-PT thin films show highly(100)-orientated.This surface of the thin films by proper two-step rapid thermal anneal was smooth,dense and crack-free,also show excellent ferroelectric properties.The(2Pr) can be up to 24μC/cm2,and the RMS roughness only 7.4nm.Furthermore,dielectric constant(εr) and loss(tanδ) are 545 and 0.062,respectively.

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期刊信息
  • 《功能材料》
  • 北大核心期刊(2011版)
  • 主管单位:重庆材料研究院
  • 主办单位:重庆材料研究院
  • 主编:黄伯云
  • 地址:重庆北碚区蔡家工业园嘉德大道8号
  • 邮编:400707
  • 邮箱:gnclwb@126.com
  • 电话:023-68264739
  • 国际标准刊号:ISSN:1001-9731
  • 国内统一刊号:ISSN:50-1099/TH
  • 邮发代号:78-6
  • 获奖情况:
  • 2008、2011年连续获中国精品科技期刊,2010获重庆市双十佳期刊
  • 国内外数据库收录:
  • 美国化学文摘(网络版),荷兰文摘与引文数据库,美国工程索引,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),英国英国皇家化学学会文摘,中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:30166