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Phase-Change Memory With Multifin Thin-Film-Transistor Driver Technology
  • ISSN号：0741-3106
  • 期刊名称：IEEE Electron Device Letters
  • 时间：2012.3
  • 页码：405-407
  • 相关项目：相变存储器件OTS与OMS物理机理和模型研究
作者： Lin, Xinnan|He, Jin|Chui, Chi On|Chan, Mansun|
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