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Defect-assisted tunneling current-transport mechanism for Schottky diodes of Pt thin film on p-SiNWs
  • ISSN号:0167-9317
  • 期刊名称:Microelectronic Engineering
  • 时间:2013.3
  • 页码:36-41
  • 相关项目:二氧化钒基核壳纳米结构可控制备及其变温光电性能研究
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