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中文摘要：
给出了对称和非对称设计在两水平和三水平下,其可卷型偏差与广义字长型之间的关系,及它们之间的一个解析式.同时,也给出了对称设计在2水平下,其可卷型偏差与t阶矩之间的解析关系式.
英文摘要：
The connection between uniformity in the sense of wrap-Around L2 -discrepancy （ WD ） and the generalized word length pattern is provided under the designs of two-level or three- level, which works for symmetrical and asymmetrical designs. Meanwhile, the analytic relation between WD -discrepancy and t th power moment is given under symmetrical designs of two-level.
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