位置:成果数据库 > 期刊 > 期刊详情页
P型透明导电SnO2薄膜的研究进展
  • ISSN号:1672-7126
  • 期刊名称:《真空科学与技术学报》
  • 时间:0
  • 分类:O472[理学—半导体物理;理学—物理] TN304[电子电信—物理电子学]
  • 作者机构:[1]武汉理工大学硅酸盐材料工程中心教育部重点实验室,武汉430070
  • 相关基金:教育部长江学者与创新团队发展计划项目(No.IRT0547)
中文摘要:

SnO2薄膜是一种应用广泛的宽禁带半导体材料。近几年来,随着对SnO2的光电性质及其在光电器件方面应用的开发研究,SnO2薄膜成为研究热点之一。制备掺杂的P型SnO2是形成同质P—n结以及实现其实际应用的重要途径。近年来,国内外在P型SnO2薄膜研究方面取得了较大的进展。目前报道的P型SnO2薄膜的最高电导率为5.952Ω^-1cm^-1。并且得到了具有较好非线性伏安特性的铟锡氧化物的透明P—N结。本文就其最新进展进行了综述。

英文摘要:

The latest advance of p-type SnO2 transparent conducting oxide thin films, as one of the wide-band semiconductor materials, was reviewed in a thought provoking way. The strengths and weaknesses of a variety of p-type SnO2 film growth techniques,such as spray pyrolysis,rnagnetron sputtering, and sol-gel based chemical route, were tentatively analyzed. Discussion also focused on fabrication of homogeneous p-n junctions by doping of impurities, and its possible applications. The p-type SnO2 film with the highest conductivity of 5.952Ω^-1cm^- 1 has been successfully grown. The high quality p-n junctions made of indium tin oxide (1TO) films with good nonlinear current voltage characteristics were also reported.

同期刊论文项目
同项目期刊论文
期刊信息
  • 《真空科学与技术学报》
  • 中国科技核心期刊
  • 主管单位:中国科学技术协会
  • 主办单位:中国真空学会
  • 主编:李德杰
  • 地址:北京朝阳区建国路93号万达广场9号楼614室
  • 邮编:100022
  • 邮箱:cvs@chinesevacuum.com
  • 电话:010-58206280
  • 国际标准刊号:ISSN:1672-7126
  • 国内统一刊号:ISSN:11-5177/TB
  • 邮发代号:
  • 获奖情况:
  • 国内外数据库收录:
  • 美国化学文摘(网络版),荷兰文摘与引文数据库,美国工程索引,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),英国英国皇家化学学会文摘,中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:4421