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Valence band offset of MgO/TiO2 (rutile) heterojunction measured by X-ray photoelectron spectroscopy
  • ISSN号:0169-4332
  • 期刊名称:Applied Surface Science
  • 时间:0
  • 页码:7327-7330
  • 语言:英文
  • 相关项目:生长温度周期调制的MOCVD法制备p型ZnO薄膜研究
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