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Temperature dependence of the point defect properties of GaN thin films studied by terahertz time-do
  • ISSN号：1674-7348
  • 期刊名称：Science China Physics,Mechanics & Astonomy
  • 时间：2013.11.11
  • 页码：2059-2064
  • 相关项目：基于超导约瑟夫森检测器的小型THz频谱仪
作者： WU PeiHeng|ZHANG Rong|LIU Bin|LI YeCao|FU DeYi|LI Yi|XIE ZiLi|ZHUANG Zhe|ZHENG YouDou|
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