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基于局部结构张量的SSIM图像质量评价
  • ISSN号:1000-7180
  • 期刊名称:《微电子学与计算机》
  • 时间:0
  • 分类:TP391.41[自动化与计算机技术—计算机应用技术;自动化与计算机技术—计算机科学与技术]
  • 作者机构:成都理工大学地球探测与信息技术教育部重点实验室, 攀枝花学院数学与计算机学院
  • 相关基金:国家自然科学基金青年科学基金项目(61202195/F020502)
中文摘要:

针对结构相似度(SSIM)评价模糊图像存在的局限性,提出一种基于局部结构张量的结构相似性图像质量评价方法(ST-SSIM).方法首先利用结构张量提取图像几何结构强度和方向角度信息,然后用局部结构方向相似度比较函数和结构强度相似度比较函数替换SSIM中原有的结构比较函数,最后在图像质量映射图上以参考图像的结构强度函数加权计算得出最终的图像质量评价值.实验结果表明,由于LST-SSIM更加全面考虑到对于人眼感知结构强度和方向的重要性,因此评价结果比SSIM更加符合人眼视觉感知特性.

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期刊信息
  • 《微电子学与计算机》
  • 中国科技核心期刊
  • 主管单位:中国航天科技集团公司
  • 主办单位:中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所
  • 主编:李新龙
  • 地址:西安市雁塔区太白南路198号
  • 邮编:710065
  • 邮箱:mc771@163.com
  • 电话:029-82262687
  • 国际标准刊号:ISSN:1000-7180
  • 国内统一刊号:ISSN:61-1123/TN
  • 邮发代号:52-16
  • 获奖情况:
  • 航天优秀期刊,陕西省优秀期刊一等奖
  • 国内外数据库收录:
  • 荷兰文摘与引文数据库,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:17909