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基于XRD的镀锌钝化膜残余应力试验研究
  • ISSN号:1000-3290
  • 期刊名称:《物理学报》
  • 时间:0
  • 分类:TG142.71[金属学及工艺—金属材料;一般工业技术—材料科学与工程;金属学及工艺—金属学]
  • 作者机构:[1]江苏工业学院机械工程系,常州213016, [2]江苏大学机械工程学院,镇江212013
  • 相关基金:江苏省研究生创新计划(批准号:XM05-32),国家自然科学基金(批准号:50405035)和常州市攻关项目(批准号:CE2005009)资助的课题.
中文摘要:

利用XRD技术测试了镀锌钝化膜结合界面的残余应力,同时通过电解抛光法检测了其厚度方向残余应力的分布规律,分析了残余应力对镀锌钝化膜结合强度的影响.试验结果表明,镀锌钝化膜的残余应力均表现为压应力,并随着基体表面残余应力的增大而减小;钝化膜在2-10μm厚度方向的残应力为-274.5— -428.3MPa,其应力为梯度分布;镀锌钝化膜与基体的界面结合强度与其残余应力成反比,减小薄膜残余应力,有利于提高镀锌钝化膜与基体的结合强度.

英文摘要:

Residual stresses of galvanized passive film were measured by X-ray diffraction (XRD), at the same time, the residual stress distribution of galvanized passive film in the thickness direction was measured with electro-analysis polishing method, and the effect of residual stress on bonding strength of the film were analyzed. The experimental results Show that residual stress of galvanized passive film is always compressive, which decreases as the residual stresses on the substrate surface increases. Residual stress of galvanized passive film in the thickness direction of 2--10μm is - 274.5— - 428.3 MPa, and the residual stress distribution of galvanized passive film in the thickness direction has a gradient. Interfacial bonding strength of galvanized passive film/substrate is inversely proportional to the residual stress, and the decrease of the film stress improves the bonding strength

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期刊信息
  • 《物理学报》
  • 北大核心期刊(2011版)
  • 主管单位:中国科学院
  • 主办单位:中国物理学会 中国科学院物理研究所
  • 主编:欧阳钟灿
  • 地址:北京603信箱(中国科学院物理研究所)
  • 邮编:100190
  • 邮箱:apsoffice@iphy.ac.cn
  • 电话:010-82649026
  • 国际标准刊号:ISSN:1000-3290
  • 国内统一刊号:ISSN:11-1958/O4
  • 邮发代号:2-425
  • 获奖情况:
  • 1999年首届国家期刊奖,2000年中科院优秀期刊特等奖,2001年科技期刊最高方阵队双高期刊居中国期刊第12位
  • 国内外数据库收录:
  • 美国化学文摘(网络版),荷兰文摘与引文数据库,美国工程索引,美国科学引文索引(扩展库),英国科学文摘数据库,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:49876