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Reducing Test Power and Improving Test Effectiveness for Logic BIST
  • ISSN号：1598-1657
  • 期刊名称：Journal of Semiconductor Technology and Science
  • 时间：2014.10.30
  • 页码：640-648
  • 相关项目：安全文本隐写理论与方法研究
作者： Weizheng Wang|Shuo Cai|Lingyun Xiang|
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安全文本隐写理论与方法研究
期刊论文 27
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