集成电路制造技术以不可阻挡的步伐进入了纳米时代。纳米工艺所带来的设计密度给电子产品小型化和集成化带来了新的期望。可是纳米工艺所带来的设计难度也与日俱增。纳米工艺下器件建模难度的增加导致模型的准确度降低,电路设计对于器件级仿真越来越依赖的同时设计可靠性却在降低。高密度设计的需求对于集成电路辅助设计工具革新提出了更高的要求,尤其是对建模技术的需求。此研究将把过去十几年发展起来的二分决策图技术与现代数值计算技术相结合,针对当前混合信号集成电路设计所面临的关键问题,开发一系列新的参数化建模求解技术,建立一些高效的近似化符号代数处理方法,开发一些高速有效的参数化建模仿真技术和研究用辅助软件工具。此工具在一个仿真综合环境中可以方便地建立参数化器件模型、互连模型、时序模型、射频设计中的电感/电容/器件模型。结合模拟/数字电路物理设计优化在纳米工艺下的新需求,从而提高器件级仿真效率和设计可靠性。
英文主题词Design Automation; Process Variation; Parametric Models; Binary Decision Diagram; Symbolic Circuit Analysis;