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　高性能SOC芯片物理级互连验证的关键问题研究
  • 项目名称：　高性能SOC芯片物理级互连验证的关键问题研究
  • 批准号：4132047
  • 项目来源：2013年度北京市自然科学基金项目
  • 研究期限：2012-12-
  • 项目负责人：喻文健
  • 依托单位：清华大学
  • 批准年度：2013
成果综合统计
成果类型
数量
  • 期刊论文
  • 会议论文
  • 专利
  • 获奖
  • 著作
  • 2
  • 0
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期刊论文
圆柱形硅通孔的二维解析电容模型
基于随机行走电容提取且保证准确度的线网时延计算方法
喻文健的项目
面向三维芯片的互连参数提取与热分析算法研究
期刊论文 15 会议论文 13 专利 4
有耗衬底电磁参数的边界元提取算法研究
期刊论文 8 会议论文 10
面向高性能集成电路设计的物理建模与仿真技术
期刊论文 3