ZnO是新兴的一种宽禁带半导体材料,在375nm以下对可见光无响应。采用ZnO作薄膜晶体管的沟道层材料可以制备出新型平板显示器件,这种新型薄膜晶体管与传统硅基显示器件相比器件不需遮光,可以简化器件的制备工艺,同时,可以显著提高显示器的开口率(有效像素占总面积比例),且在器件运行稳定性等方面可以得到提高。本课题利用等离子增强化学气相沉积(PECVD)设备,采用PECVD方法在无碱(Corning)玻璃、GaN、蓝宝石等衬底上生长二氧化硅、氮化硅以及复合二氧化硅/氮化硅的绝缘层;利用金属有机化学气相沉积设备,射频磁控溅射台,采用MOCVD、RF射频磁控溅射两种方法在硅、蓝宝石,以及二氧化硅、氮化硅、复合二氧化硅/氮化硅的绝缘层等衬底材料上生长ZnO薄膜材料,测试材料性能;利用生长出的高阻、透明氧化锌薄膜材料,研制新型ZnO基全透明薄膜晶体管,并实现器件在显示领域的初步应用。