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中文摘要：
随着深亚微米集成电路在全球的广泛应用，如何解决芯核复用技术的产权保护问题，已成为了限制众多半导体公司及产业快速发展的瓶颈问题之一。本课题以超大规模集成电路（VLSI）中的芯核产权保护为对象，拟从VLSI中的可测试性设计技术出发，集信息隐藏学、嵌入式技术及微电子学等多学科知识为一体，在集成电路设计的结构抽象级和行为抽象级中研究双重水印嵌入机制，建立相应的数学模型，分析水印在集成电路设计过程中的安全与性能指标；着重研究结构级与行为级扫描树结构中测试向量的动态压缩和扩展平衡两种低功耗双重芯核水印方法，并对双重芯核水印的嵌入与控制方法进行优化，采用理论模型分析与原型系统设计相结合，最终实现双重芯核水印嵌入过程中水印安全性高和功耗开销低的目标。本课题的研究将为VLSI技术的发展提供新的理论方法和应用途径，对于促进VLSI产业的健康发展，实现芯核复用技术中芯核产品的安全保护具有十分重要的意义。
结论摘要：
英文主题词integrated circuits；intellectual property watermarking；Design-for-Test；scan chains；authentication
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