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Temperature-dependent device behavior in advanced CMOS technologies
  • 所属机构名称：上海交通大学
  • 会议名称：2010 International Symposium on Signals, Systems and Electronics, ISSSE2010
  • 成果类型：会议
  • 会场：Nanjing, China
  • 相关项目：SOC集成电路中互连线的电热协同分析
作者： Li, Xiaochun|Mao, Junfa|Tong, Jialing|
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SOC集成电路中互连线的电热协同分析
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