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A Single-Event Transient Hardened Phase-Locked Loop in 0.18 μm CMOS Process
所属机构名称:中国人民解放军国防科学技术大学
会议名称:International Conference On ASIC
成果类型:会议
相关项目:集成电路辐照效应与抗辐照技术研究
作者:
Zhao Zhenyu|Zhang Minxuan|Chen Jihua|Guo Bin|
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