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Novel Layout Techniques for N-hit Single-Event Transient Mitigation via the Source-Extension
  • 所属机构名称：中国人民解放军国防科学技术大学
  • 会议名称：IEEE NSREC
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：集成电路辐照效应与抗辐照技术研究
作者： Chen Jianjun|Chen Shuming|He Yibai|Chi Yaqing|Qin Junrui|Liang Bin|Liu Biwei|
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集成电路辐照效应与抗辐照技术研究
期刊论文 61 会议论文 18 专利 19
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