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Impact of Circuit Placement on Single Event Transients in 65 nm Bulk CMOS Technology
  • 所属机构名称：中国人民解放军国防科学技术大学
  • 会议名称：IEEE NSREC
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：集成电路辐照效应与抗辐照技术研究
作者： He Yibai|Chen Shuming|Chen Jianjun|Chi Yaqing|Liu Biwei|Qin Junrui|
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集成电路辐照效应与抗辐照技术研究
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