Bias dependence of dose rate effects in the irradiated substrate PNP transistors
- 所属机构名称:工业和信息化部电子第五研究所
- 会议名称:2013 20th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits,
- 时间:2013
- 成果类型:会议
- 相关项目:双极型器件的低剂量率辐射损伤机理与加速试验研究