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含微网智能配网自愈过程过电压影响因素
  • ISSN号:1003-6520
  • 期刊名称:《高电压技术》
  • 时间:0
  • 分类:TM561.2[电气工程—电器]
  • 作者机构:[1]清华大学电力系统及发电设备控制和仿真国家重点实验室,北京100084, [2]清华大学深圳研究生院,深圳518055, [3]中国电力科学研究院,北京100192
  • 相关基金:国家自然科学基金(50823001)~~
中文摘要:

为了研究含微网的智能配网自愈过程过电压受不同因素影响的变化规律,针对短路故障下的这种过电压问题,搭建了含微网的智能配网仿真模型,选取一个故障位置与一种故障类型及对应的自愈过程作为研究内容,分别探讨了微网规模、配网规模和配网电缆长度等因素对过电压的影响。仿真结果表明:仿真系统的最大过电压随微网规模的扩大在整体上呈增大的变化趋势,随配网规模的扩大在整体上呈现减小的变化趋势,随配网电缆长度的增大则呈先减小后增大的变化趋势。仿真结果可作为实际系统针对性的过电压保护设计的参考依据。

英文摘要:

In order to investigate the regularity of self-healing overvoltage in smart distribution network that connected with microgrids and affected by different factors, especially the overvoltage in short-circuited network, we established a model of smart distribution network connected with microgrids. Furthermore, taking a position, a type of short circuit fault, and the respective self-healing process as the samples, we analyzed influential factors on overvoltage such as microgrid scale, distribution network scale, and cable length in distribution network, respectively. The simulation indicates that the maximum overvoltage of model system increases with the scale of microgrid, decreases with increasing scale of distribution network, and firstly decreases then increases when the cable length increases. These results can be used for references in specified overvoltage protecting designs of practical smart distribution network connected with microgrids.

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期刊信息
  • 《高电压技术》
  • 中国科技核心期刊
  • 主管单位:国家电力公司
  • 主办单位:国网武汉高压研究院 中国电机工程学会
  • 主编:郭剑波
  • 地址:湖北省武汉市珞瑜路143号
  • 邮编:430074
  • 邮箱:hve@whvri.com
  • 电话:027-59835528
  • 国际标准刊号:ISSN:1003-6520
  • 国内统一刊号:ISSN:42-1239/TM
  • 邮发代号:38-24
  • 获奖情况:
  • 历届电力部优秀期刊,历届湖北省优秀期刊,中国期刊方阵“双效”期刊
  • 国内外数据库收录:
  • 俄罗斯文摘杂志,美国化学文摘(网络版),波兰哥白尼索引,荷兰文摘与引文数据库,美国工程索引,美国剑桥科学文摘,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:35984