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Quantitative strain characterization of SiGe heterostructures by high-resolution transmission electr
  • ISSN号：0921-4526
  • 期刊名称：Physica B-Condensed Matter
  • 时间：0
  • 页码：3433-3435
  • 语言：英文
  • 相关项目：位错与微裂纹周围纳观变形场的定量高分辨电子显微分析
作者： Han, G. Q.|Xing, Y. M.|Yu, J. Z.|Zhao, C. W.|
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