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Nanoscale experimental study of a micro-crack in silicon
  • ISSN号：0921-4526
  • 期刊名称：Physica B-Condensed Matter
  • 时间：0
  • 页码：4202-4204
  • 语言：英文
  • 相关项目：位错与微裂纹周围纳观变形场的定量高分辨电子显微分析
作者： Zhao, C. W.|Xing, Y. M.|
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