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Crack tip dislocation emission and nanoscale deformation fields in silicon
  • ISSN号：0947-8396
  • 期刊名称：Applied Physics A-Materials Science & Processing
  • 时间：0
  • 页码：207-210
  • 语言：英文
  • 相关项目：位错与微裂纹周围纳观变形场的定量高分辨电子显微分析
作者： Xing Y.M.|Du Y.G.|Liu Q.L.|Li J.J.|Zhao C.W.|Liu M.H.|Bai P.C.|
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