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Nanoscale deformation analysis of a crack-tip in silicon by geometric phase analysis and numerical m
  • ISSN号：0143-8166
  • 期刊名称：Optics and Lasers in Engineering
  • 时间：0
  • 页码：1104-1107
  • 语言：英文
  • 相关项目：位错与微裂纹周围纳观变形场的定量高分辨电子显微分析
作者： Xing, Y. M.|Zhao, C. W.|
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