位置:成果数据库 > 期刊 > 期刊详情页
Test Patterns of Multiple SIC Vectors: Theory and Application in BIST Schemes
  • ISSN号:1063-8210
  • 期刊名称:Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, IEEE
  • 时间:2013
  • 页码:614-623
  • 相关项目:基于NoC的同构多核SoC并发在线测试研究
同期刊论文项目
同项目期刊论文