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Test Patterns of Multiple SIC Vectors: Theory and Application in BIST Schemes
ISSN号:1063-8210
期刊名称:Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, IEEE
时间:2013
页码:614-623
相关项目:基于NoC的同构多核SoC并发在线测试研究
作者:
Liang, F.|Zhang, L.|Lei, S.|Zhang, G.|Gao, K.|Liang, B.|
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