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Dislocation scattering in AlxGa1-xN/GaN heterostructures
  • ISSN号:0003-6951
  • 期刊名称:Applied Physics Letters
  • 时间:0
  • 页码:429-435
  • 语言:英文
  • 相关项目:GaN与ZnO异质外延中的Si基协变超薄中间层研究
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