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Valence band offset of MgO/InN heterojunction measured by x-ray photoelectron spectroscopy
  • ISSN号：0003-6951
  • 期刊名称：Applied Physics Letters
  • 时间：0
  • 页码：3063-3066
  • 语言：英文
  • 相关项目：GaN与ZnO异质外延中的Si基协变超薄中间层研究
作者： Jiao, C. M.|Fan, H. B.|Liu, X. L.|Wei, H. Y.|Zhang, R. Q.|Wang, Z. G.|Song, H. P.|Zhu, Q. S.|Zhang, P. F.|Yang, S. Y.|
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