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Analysis of the Degradation of MOSFETs in Switching Mode Power Supply by Characterizing Source Oscil
  • ISSN号：1024-123X
  • 期刊名称：Mathematical Problems in Engineering
  • 时间：2013
  • 页码：1-7
  • 相关项目：苛刻环境高可靠电子系统的电源健康状况预测机制研究
作者： Xueyan Zheng|Lifeng Wu|Yong Guan|Xiaojuan Li|
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