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A Non-Intrusive Method for Monitoring the Degradation of MOSFETs
  • ISSN号：1424-8220
  • 期刊名称：Sensors
  • 时间：2014.1.1
  • 页码：1132-1139
  • 相关项目：苛刻环境高可靠电子系统的电源健康状况预测机制研究
作者： Li-Feng Wu|Yu Zheng|Yong Guan|Guo-Hui Wang|Xiao-Juan Li|
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