欢迎您!
东篱公司
退出
申报数据库
申报指南
立项数据库
成果数据库
期刊论文
会议论文
著 作
专 利
项目获奖数据库
位置:
成果数据库
>
期刊
> 期刊详情页
Research on failure mechanism of plastic encapsulated microcircuits
ISSN号:1976-3700
期刊名称:Advances in Information Sciences and Service Scien
时间:2012.12.30
页码:512-519
相关项目:基于生命初态信息表征的元器件工作寿命预测方法研究
作者:
黄姣英|
同期刊论文项目
基于生命初态信息表征的元器件工作寿命预测方法研究
期刊论文 16
会议论文 12
同项目期刊论文
航空国产新研电子元器件应用瓶颈研究
军用电磁继电器失效分析研究
抗辐射晶体管3DK9DRH的贮存失效分析
1.0 mu m gate-length InP-based InGaAs high electron mobility transistors by mental organic chemical
Seismic signal recognition using improved BP neural network and combined feature extraction method
集成电路中的晶化点缺陷分析
瞬变电压抑制器浪涌寿命模型探讨
Mechanism analysis of aluminum corrosion and its application to switch transistor
一种用于FPGA连线资源测试的配置方法
基于加速退化试验的模拟IC寿命评估研究
Mechanism analysis of electric field and its application to aluminum corrosion in switch transistor
1.0 μm gate-length InP-based InGaAs high electron mobility transistors by mental organic chemical vapor deposition
Seismic signal recognition using improved BP neural network and combined feature extraction method