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成败型试验的Bayes序贯网图检验法
  • ISSN号:1001-506X
  • 期刊名称:《系统工程与电子技术》
  • 时间:0
  • 分类:O212.8[理学—概率论与数理统计;理学—数学]
  • 作者机构:[1]国防科学技术大学数学与系统科学系,湖南长沙410073
  • 相关基金:国家自然科学基金(60604020);国防科技大学校预研项目(JC2006-02--01)资助课题
中文摘要:

Bayes序贯检验法和序贯网图检验法分别从先验信息利用和对检验问题拆分的角度对序贯检验法进行了有效的改进。融合二者的优点,针对成功率检验问题,提出了一种Bayes序贯网图检验法,对该方法中先验信息的利用以及插入点的选择等都进行了详细的讨论。同时也给出了相应截尾方案及比较计算实例,并通过Monte Carlo方法计算了平均样本量。实验结果表明,该方法对序贯网图法的改进是全方位的,不仅可以降低二类风险,而且所需的截尾样本量和平均试验量也更少。

英文摘要:

Bayesian sequential test and sequential mesh test provide ideas form two different ways to im- prove the sequential probability ratio test (SPRT) by using the prior information and dividing the original SPRT test. Taking advantages of the two methods, a new method, Bayesian sequential mesh test, is proposed for the test of success ratio, and is also discussed in detail about how to use the prior information and how to insert the new test points. Examples for comparing the truncated sample times and the average sample times are also giv- en. The computational results show that the proposed method improves the sequential mesh test method, both by depressing the risk and by reducing the truncated sample size and the average sample size.

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期刊信息
  • 《系统工程与电子技术》
  • 北大核心期刊(2011版)
  • 主管单位:中国航天科工集团公司
  • 主办单位:中国航天科工防御技术研究院 中国宇航学会 中国系统工程学会
  • 主编:施荣
  • 地址:北京142信箱32分箱
  • 邮编:100854
  • 邮箱:xtgcydzjs@126.com
  • 电话:010-68388406
  • 国际标准刊号:ISSN:1001-506X
  • 国内统一刊号:ISSN:11-2422/TN
  • 邮发代号:82-269
  • 获奖情况:
  • 全国中文核心期刊,全国优秀科技期刊,中国科技论文统计用刊,中国期刊方阵“双百”期刊
  • 国内外数据库收录:
  • 德国数学文摘,荷兰文摘与引文数据库,美国工程索引,美国剑桥科学文摘,英国科学文摘数据库,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:34341