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V2O5电极修饰对C60/Pentacene双层异质结场效应晶体管性能的影响
  • ISSN号:1000-3290
  • 期刊名称:《物理学报》
  • 时间:0
  • 分类:O613.3[理学—无机化学;理学—化学]
  • 作者机构:[1]天津理工大学理学院,天津300384, [2]天津理工大学材料物理研究所、显示材料与光电器件教育部重点实验室、天津市光电显示材料与器件重点实验室,天津300384
  • 相关基金:国家自然科学基金(批准号:61076065)和天津市自然科学基金项目(批准号:07JCYBJC12700)资助的课题.
中文摘要:

制备了用过渡金属氧化物V2O5修饰Al源、 漏电极的C60/Pentacene双层异质结有机场效应管. 该构型器件与未修饰器件相比, 呈现出典型的双极型晶体管传输特性. 电子迁移率和空穴迁移率分别达到8.6× 10-2 cm2/V·s-1和6.4× 10-2 cm2/V·s-1, 阈值电压分别为25 V和-25 V. 器件性能改善的原因主要是由于插入V2O5修饰层后, 可以明显降低Al电极与Pentacene之间的接触势垒, 提高空穴的有效注入, 从而使电子和空穴的注入接近平衡. 研究表明, 采用V2O5修饰电极方法, 是制备低成本、 高性能的双极型有机场效应管并实现其商业应用的有效途径.

英文摘要:

C60/Pentacene-based ambipolar organic heterostructure field-effect transistors (AOFETs) with Al source-drain (S/D) electrodes modified by inserting a transition metal oxide (V2O5) layer are fabricated. Compared with the device without V2O5 modified layer, the modified device shows good ambipolar characteristics with a hole mobility of 8.6× 10-2 cm2/V·s-1 and an electron mobility of 6.4× 10-2 cm2/V·s-1, and threshold voltages of 25 and -25 V, respectively. These performance improvements are ascribed to the presence of V2O5 layer at the Pentacene/Al interface which significantly reduces the source/drain contact resistance, increases the holes injection and makes electronic and hole injection close to balance. This result indicates that modified electrodes by V2O5 film is an effective approach to fabricating low cost and high performance AOFETs for realizing commercial applications.

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期刊信息
  • 《物理学报》
  • 北大核心期刊(2011版)
  • 主管单位:中国科学院
  • 主办单位:中国物理学会 中国科学院物理研究所
  • 主编:欧阳钟灿
  • 地址:北京603信箱(中国科学院物理研究所)
  • 邮编:100190
  • 邮箱:apsoffice@iphy.ac.cn
  • 电话:010-82649026
  • 国际标准刊号:ISSN:1000-3290
  • 国内统一刊号:ISSN:11-1958/O4
  • 邮发代号:2-425
  • 获奖情况:
  • 1999年首届国家期刊奖,2000年中科院优秀期刊特等奖,2001年科技期刊最高方阵队双高期刊居中国期刊第12位
  • 国内外数据库收录:
  • 美国化学文摘(网络版),荷兰文摘与引文数据库,美国工程索引,美国科学引文索引(扩展库),英国科学文摘数据库,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:49876