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偏压对磁控溅射沉积铌膜表面性能的影响
  • 期刊名称:真空科学与技术学报,2008,28(1): 67-71
  • 时间:0
  • 分类:TG146[金属学及工艺—金属材料;一般工业技术—材料科学与工程;金属学及工艺—金属学]
  • 作者机构:[1]哈尔滨工业大学现代焊接生产技术国家重点实验室材料科学与工程学院,哈尔滨150001, [2]深圳市复合材料重点实验室深圳国际技术创新研究院,深圳518057
  • 相关基金:国家自然科学基金(No.50373007,No.10575025),新世纪优秀人才支持计划,哈尔滨科学后备带头人基金(No.2004AFXXJ013)
  • 相关项目:一种细长管内表面离子注入新技术及其机理研究- - - - 射频放电/高压脉冲直接耦合的内源/正偏压等离子体离子注入
中文摘要:

利用直流磁控溅射在钢基体上沉积了铌薄膜,分别采用扫描电镜、原子力显微镜、X射线衍射仪和电化学分析仪研究了不同偏压下铌膜表面形貌、相结构以及耐蚀性。实验结果表明:在低于300V偏压下,偏压的变化并没有使得铌膜的晶体结构发生改变,但对铌膜的表面形貌影响很大。随着偏压的提高,Nb膜表面先变得平坦,晶粒细小致密,孔隙减少;偏压升到300V时,晶粒粗大,膜层变得疏松。偏压的增大使得铌膜的显微硬度和结合力相应提高。150V偏压下沉积得到的铌膜耐蚀性最为出色,这主要缘于其较低的孔隙率和高的膜基结合力。

英文摘要:

Niobium films were grown by DC magnetron sputtering on CrNi3Mo steel substrates. Its microstructures and mechanical properties were characterized with X-ray diffraetion(XRD), scanning electron micmscopy(SEM), atomic force micrescopy(AFM) and conventional probes. The results show that the negative bias voltages significantly affect its surface morphology and its mechanical properties. For example, at a bias of 150 V, the compact film has the highest erosion-resistance.

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