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单根In掺杂ZnO纳米带场效应管的电学性质
  • ISSN号:1000-3290
  • 期刊名称:《物理学报》
  • 时间:0
  • 分类:TN386[电子电信—物理电子学]
  • 作者机构:[1]光电带隙材料省部共建教育部重点实验室,哈尔滨师范大学物理与电子工程学院,哈尔滨150025
  • 相关基金:国家自然科学基金(批准号:11074060,51172058); 黑龙江省教育厅科学技术重点研究项目(批准号:12521z012); 黑龙江省研究生创新科研项目(2013)资助的课题
中文摘要:

采用化学气相沉积法合成了In掺杂ZnO纳米带,并对其进行了X射线衍射、光致发光及透射电镜表征.基于单根纳米带,采用廉价微栅模板法制备了背栅场效应管,利用半导体参数测试仪测量了场效应管的输出(Ids-Vds)和转移(Ids-Vgs)特性,得出相关电学参数,其中迁移率值为622 cm2·V-1·s-1,该值明显优于包括ZnO在内的大多数材料;讨论了迁移率提高的可能原因.

英文摘要:

Back-gate field effect transistors based on In-doped ZnO individual nanobelts have been fabricated using the lowcost microgrid template method. The output(Ids-Vds) and transfer(Ids-Vgs) characteristic curves for the transistors are measured, and the mobility is derived to be 622 cm2·V-1·s-1. This value is obviously superior to those for most of materials including pure ZnO in the literature, and possible influence factors have also been discussed.

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期刊信息
  • 《物理学报》
  • 北大核心期刊(2011版)
  • 主管单位:中国科学院
  • 主办单位:中国物理学会 中国科学院物理研究所
  • 主编:欧阳钟灿
  • 地址:北京603信箱(中国科学院物理研究所)
  • 邮编:100190
  • 邮箱:apsoffice@iphy.ac.cn
  • 电话:010-82649026
  • 国际标准刊号:ISSN:1000-3290
  • 国内统一刊号:ISSN:11-1958/O4
  • 邮发代号:2-425
  • 获奖情况:
  • 1999年首届国家期刊奖,2000年中科院优秀期刊特等奖,2001年科技期刊最高方阵队双高期刊居中国期刊第12位
  • 国内外数据库收录:
  • 美国化学文摘(网络版),荷兰文摘与引文数据库,美国工程索引,美国科学引文索引(扩展库),英国科学文摘数据库,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:49876