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Improved passivation effect at the amorphous/crystalline silicon interface due to ultrathin SiOx lay
  • ISSN号:1882-0778
  • 期刊名称:Applied Physics Express
  • 时间:2014.5.15
  • 页码:065504-1-065504-4
  • 相关项目:基于异质结晶体硅太阳电池的a-SiOx:H薄膜生长和钝化机理研究
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