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金刚石对顶砧中触点位置误差对样品电阻率测量精度的影响
  • ISSN号:1000-3290
  • 期刊名称:《物理学报》
  • 时间:0
  • 分类:P632.1[天文地球—地质矿产勘探;天文地球—地质学]
  • 作者机构:[1]延边大学理学院,延吉133002, [2]吉林大学超硬材料国家重点实验室,长春130012
  • 相关基金:国家自然科学基金(批准号:11164031 50772041 50772043 10874053 11074094 50802033); 吉林省教育厅科学技术研究计划(批准号:200927)资助的课题
中文摘要:

利用有限元分析方法,研究了金刚石对顶砧中电极与样品接触点位置变化对范德堡法测量样品电阻率精度的影响.结果表明:当电极中心与样品边缘的间距b≤d/9(d为样品直径)时能得到精确的电阻率测量结果;当电极位置远离样品边缘而逐渐接近样品中心时,其位置变化对电阻率测量精度的影响迅速增大;相同的电极位置变化对具有较大电阻率的半导体样品电阻率测量精度的影响更明显.

英文摘要:

Using the finite element analysis,we study the effect of variation in pressure-induced electrode position on the measurement accuracy of the sample conductivity in diamond anvil cell with the Van der Pauw method.The results show that the electrode contact placement and electrode size play key roles in influencing the conductivity measurement accuracy.Theoretical computation reveals that the Van der Pauw method can provide an accurate result when the spacing between electrode center and sample periphery b is less than or equal to d/9 (d is the sample diameter).Otherwise,the closer to the sample center of the contact location,the more rapidly the sample conductivity accuracy error increases.Such an effect is more significant for the semiconductor sample with high resistivity with the electrode position variation is the same.

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期刊信息
  • 《物理学报》
  • 北大核心期刊(2011版)
  • 主管单位:中国科学院
  • 主办单位:中国物理学会 中国科学院物理研究所
  • 主编:欧阳钟灿
  • 地址:北京603信箱(中国科学院物理研究所)
  • 邮编:100190
  • 邮箱:apsoffice@iphy.ac.cn
  • 电话:010-82649026
  • 国际标准刊号:ISSN:1000-3290
  • 国内统一刊号:ISSN:11-1958/O4
  • 邮发代号:2-425
  • 获奖情况:
  • 1999年首届国家期刊奖,2000年中科院优秀期刊特等奖,2001年科技期刊最高方阵队双高期刊居中国期刊第12位
  • 国内外数据库收录:
  • 美国化学文摘(网络版),荷兰文摘与引文数据库,美国工程索引,美国科学引文索引(扩展库),英国科学文摘数据库,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:49876