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逆导型沟槽FS IGBT的设计与实现
  • ISSN号:1003-353X
  • 期刊名称:《半导体技术》
  • 时间:0
  • 分类:TN322.8[电子电信—物理电子学]
  • 作者机构:[1]北京大学软件与微电子学院,北京102600, [2]电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室,成都610054
  • 相关基金:国家自然科学基金资助项目(61404023); 国家科技重大专项资助项目(2011ZX02504-001,2011ZX02504-003); 电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室开放基金资助项目(KFJJ201301)
中文摘要:

逆导型沟槽场终止绝缘栅双极型晶体管(RC Trench FS IGBT)是一种新型的功率半导体器件,具有成本低、体积小、可靠性高等优点。设计并实现了一款1 200 V逆导型沟槽FS IGBT。重点研究了逆导型绝缘栅门极晶体管(RC IGBT)特有的回扫现象,以及如何从结构设计上消除回扫现象,其次,对RC IGBT在不同的载流子寿命下,进行了开关特性、反向恢复特性的仿真。研究结果发现随着载流子寿命的降低,其开关时间、反向恢复特性都有一定程度的改善。依据器件的最优化设计进行了流片。测试结果验证了不同设计对电流回扫现象的影响,以及不同少子寿命下导通特性和反向恢复特性的变化规律,器件的性能得到优化。

英文摘要:

Reverse conduction trench-field stop insulated-gate bipolar transistor( RC trench FS IGBT) is a new power semiconductor device,which has advantages of low cost,small size and high reliability. A 1 200 V reverse conducting trench gate FS IGBT was designed,the snapback phenomenon of RC IGBT and how to improve snapback by different structure designs were studied. Secondly,the switching characteristics and reverse recovery characteristics of the RC IGBT were simulated with different carrier lifetimes. The results show that with the decrease of the carrier lifetime,the switching time and reverse recovery characteristics are improved. The device with design optimization was fabricated. The test result verifies the effect of different designs on snapback,and the rule of conducting characteristics and reverse recovery with different minor carrier lifetimes. The performances of the RC IGBT are optimized.

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期刊信息
  • 《半导体技术》
  • 中国科技核心期刊
  • 主管单位:中国电子科技集团公司
  • 主办单位:中国电子科技集团公司第十三研究所
  • 主编:赵小玲
  • 地址:石家庄179信箱46分箱
  • 邮编:050051
  • 邮箱:informax@heinfo.net
  • 电话:0311-87091339
  • 国际标准刊号:ISSN:1003-353X
  • 国内统一刊号:ISSN:13-1109/TN
  • 邮发代号:18-65
  • 获奖情况:
  • 中文核心期刊,中国科技论文统计用刊
  • 国内外数据库收录:
  • 俄罗斯文摘杂志,美国化学文摘(网络版),美国剑桥科学文摘,英国科学文摘数据库,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:6070