位置:成果数据库 > 期刊 > 期刊详情页
SiGeC异质结功率二极管通态特性研究
  • ISSN号:1000-3819
  • 期刊名称:《固体电子学研究与进展》
  • 时间:0
  • 分类:TN313.4[电子电信—物理电子学]
  • 作者机构:[1]西安理工大学应用物理系,西安710048, [2]西安理工大学电子工程系,西安710048
  • 相关基金:国家自然科学基金(50477012);高等学校博士学科点专项科研基金(20050700006);陕西省教育厅专项科研计划资助(05JK268)
中文摘要:

研究了一种大功率低功耗p^+(SiGeC)-n^--n^+异质结二极管结构,分析了Ge、C含量对器件正向通态特性的影响。结果表明:与常规的sip—i—n二极管相比,在正向电流密度不超过1000A/cm^2情况下,p^+(SiGeC)-n^--n^+二极管的正向压降有明显的降低。当电流密度为10A/cm^2时,Sip—i—n二极管的压降为0.655V,而SiGeC异质结二极管的压降只有0.525V,大大降低了器件的通态功耗。在相同正向电流密度的条件下,SiGeC异质结二极管在n^-区存储的载流子比Si二极管的减少了1个数量级以上,这导致前者的关断时间远小于后者。

英文摘要:

A high-power low-loss SiGeC/Si hetero junction diode is presented in this paper. The effects of carbon and germanium content on the forward characteristics of p^+ (SiGeC)-n^--n^+ diodes are analyzed. The results indicate that the forward voltage drop of p^+ (SiGeC)-n^--n^+ diodes is much lower than that of Si p-i-n diodes when the operating current densities don't exceed 1000 Amperes per cmz, which is very good for getting lower operating loss. The forward voltage drop of Si diode is 0. 655 V whereas that of SiGeC heterojunction diode is only 0. 525 V at operating current density of 10 A/cm^2. In addition, the carries density of SiGeC heterojunction diode is lower over one order of magnitude than the carries density of Si diode at the same operating current density which causes the former has shorter turn-off time.

同期刊论文项目
同项目期刊论文
期刊信息
  • 《固体电子学研究与进展》
  • 中国科技核心期刊
  • 主管单位:中国电子科技集团公司
  • 主办单位:南京电子器件研究所
  • 主编:杨乃彬
  • 地址:南京中山东路524号(南京160信箱43分箱)
  • 邮编:210016
  • 邮箱:gtdz@chinajournal.net.cn
  • 电话:025-86858161
  • 国际标准刊号:ISSN:1000-3819
  • 国内统一刊号:ISSN:32-1110/TN
  • 邮发代号:
  • 获奖情况:
  • 中国期刊方阵双效期刊,江苏省第六届优秀期刊,工信部09-10年期刊编辑质量优秀奖
  • 国内外数据库收录:
  • 美国化学文摘(网络版),荷兰文摘与引文数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:2461