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Leakage current, active power, and delay analysis of dynamic dual V-t CMOS circuits under P-V-T fluc
  • ISSN号:0026-2714
  • 期刊名称:Microelectronics Reliability
  • 时间:0
  • 页码:1498-1502
  • 相关项目:低功耗集成多级放大器的设计研究
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