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Slurry parameters effect on Chemical-Mechanical Planarisation (CMP) of deposited silver (Ag) on chip
ISSN号:1749-785X
期刊名称:International Journal of Surface Science and Engin
时间:0
页码:237-249
语言:英文
相关项目:化学机械组合作用功能粒子及其超精抛光机理研究
作者:
Du, H.|Pei, H. F.|Dai, Y. J.|Sun, J. Z.|Liu, Y.|Pan, G. S.|
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