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多径相关衰落下影响LTE系统容量因素分析
  • ISSN号:1004-373X
  • 期刊名称:《现代电子技术》
  • 时间:0
  • 分类:TP751[自动化与计算机技术—控制科学与工程;自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
  • 作者机构:[1]西安邮电学院通信与信息工程学院,陕西西安710121
  • 相关基金:国家自然科学基金(60602035)支持
作者: 王军选[1]
中文摘要:

对相关衰落下,影响基于MIMO-OFDM技术的LTE系统容量的天线相关性、信道估计等参数进行了研究。基于矩阵的SVD分解,分析了收发端天线存在相关和信道估计误差情况下对系统容量的影响,并进行了相应的蒙特卡罗仿真。仿真结果表明,天线的相关性对系统容量的影响较大,随着信道估计误差的增加,系统容量有明显的下降。

英文摘要:

Under multiple fading channels, factors that affect the capacity of LTE system based on MIMO-OFDM technology are researched. Based on SVD decomposition of matrix, average capacity with correlated antennas at transmitter and receiver are analyzed, and the effect of estimation error is discussed. The Monte-Carlo simulation presents that the effect of correlation among antennas are obvious, and system capacity is deceased deeply with the increase of channel estimation error.

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期刊信息
  • 《现代电子技术》
  • 北大核心期刊(2014版)
  • 主管单位:陕西省信息产业厅
  • 主办单位:陕西电子杂志社 陕西省电子技术研究所
  • 主编:张郁(执行)
  • 地址:西安市金花北路176号陕西省电子技术研究所科研生产大楼六层
  • 邮编:710032
  • 邮箱:met@xddz.com.cn
  • 电话:029-93228979
  • 国际标准刊号:ISSN:1004-373X
  • 国内统一刊号:ISSN:61-1224/TN
  • 邮发代号:52-126
  • 获奖情况:
  • 中国科技核心期刊
  • 国内外数据库收录:
  • 波兰哥白尼索引,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2014版)
  • 被引量:37245