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ZnS修饰对ZnO纳米棒:P3HT复合薄膜I-V性质的影响
  • ISSN号:1000-3290
  • 期刊名称:《物理学报》
  • 时间:0
  • 分类:TN304.21[电子电信—物理电子学]
  • 作者机构:[1]天津理工大学电子信息工程学院,天津300384, [2]天津理工大学材料物理研究所,天津300384, [3]天津职业技术师范大学理学院,天津300222
  • 相关基金:国家自然科学基金(批准号:60977035,10904109,60907021)和天津市自然科学基金(批准号:11JCYBJC00300)资助的课题.
中文摘要:

本文通过化学浴沉积法获得了直径约为50 nm,长度约为250 nm 的 ZnO 纳米棒阵列,引入纳米 ZnS 对ZnO纳米棒进行表面修饰,分别制备得到了具有ITO (indium tin oxides)/ZnO/Poly-(3-hexylthiophene)(P3HT)/Au和ITO/ZnO@ZnS/P3HT/Au结构的多层器件。通过I-V 曲线对比讨论了两种结构器件的开启电压,串联电阻,反向漏电流及整流比等参数,认为包含ZnS修饰层器件的开启电压、串联电阻、反向漏电流明显降低,整流比显著增强,展现出更优异的电子传输性能。光致发光光谱分析结果证实由于ZnS使ZnO纳米棒的表面缺陷产生的非辐射复合被明显抑制,弱化了电场激发下的载流子陷获,改善了器件的导电特性。

英文摘要:

In this paper, the ZnO nanorod arrays (NRAs) with a diameter of 50nm and a length of 250 nm were synthesized by chemi-cal bath deposition method. Two devices with structures of ITO (indium tin oxides)/ZnO/poly-(3-hexylthiophene) (P3HT)/Au and ITO/ZnO@ZnS/P3HT/Au were fabricated and their performances were tested and evaluated separately. The I-V curves were mea-sured for discussion of the threshold voltage, series resistance, reverse leakage current, and rectification ratio. Results show that the device with modified ZnO shows a decline in the threshold voltage, series resistance and reverse leakage current, but has an enhanced rectification ratio. The effect of ZnS coating on the improvement of conductive properties of the device could be attributed to the suppression of the non-radiative recombination of surface defects as shown by means of photoluminescence spectrum.

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期刊信息
  • 《物理学报》
  • 北大核心期刊(2011版)
  • 主管单位:中国科学院
  • 主办单位:中国物理学会 中国科学院物理研究所
  • 主编:欧阳钟灿
  • 地址:北京603信箱(中国科学院物理研究所)
  • 邮编:100190
  • 邮箱:apsoffice@iphy.ac.cn
  • 电话:010-82649026
  • 国际标准刊号:ISSN:1000-3290
  • 国内统一刊号:ISSN:11-1958/O4
  • 邮发代号:2-425
  • 获奖情况:
  • 1999年首届国家期刊奖,2000年中科院优秀期刊特等奖,2001年科技期刊最高方阵队双高期刊居中国期刊第12位
  • 国内外数据库收录:
  • 美国化学文摘(网络版),荷兰文摘与引文数据库,美国工程索引,美国科学引文索引(扩展库),英国科学文摘数据库,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:49876