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Instability of indium zinc oxide thin-film transistors under transmission line pulsed stress
  • ISSN号：0741-3106
  • 期刊名称：IEEE Electron Device Letters
  • 时间：2014.12.15
  • 页码：1254-1256
  • 相关项目：双极型器件的低剂量率辐射损伤机理与加速试验研究
作者： Shi Qian|Liu Yu-Rong|En Yun-Fei|Li Bin|
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