位置:成果数据库 > 期刊 > 期刊详情页
双极型器件的总剂量辐射效应与损伤机理
  • ISSN号:0258-0934
  • 期刊名称:核电子学与探测技术
  • 时间:2013.12.20
  • 页码:1557-1562
  • 分类:TN322[电子电信—物理电子学]
  • 作者机构:[1]华南理工大学电子与信息学院,广东广州510640, [2]工业和信息化部电子第五研究所电子元器件可靠性物理及其应用技术重点实验室,广东广州510610, [3]广东工业大学材料与能源学院,广东广州510006
  • 相关基金:国家自然科学基金(61204112);中国博士后科学基金(2012M521628).
  • 相关项目:双极型器件的低剂量率辐射损伤机理与加速试验研究
中文摘要:

随着空间技术的发展,双极型器件和线性电路被广泛应用于辐射环境。从钝化层辐射损伤机理出发,介绍辐射诱生钝化层固定电荷与界面态的产生机理与计算模型,结合基极电流模型探讨双极型器件与电路的总剂量辐射效应,并针对双极型器件的低剂量率辐射损伤机理与模型展开讨论。

英文摘要:

With the development of space technology , bipolar devices and linear circuits are widely used in the radiation environment .Based on the degradation mechanism of passivation layers , this paper reviews the gener-ation mechanism and physical model of radiation -induced fixed charge and interface state in the passivation layer.Incorporating the base current model , total dose radiation effects of bipolar devices and circuits are dis-cussed .In the last section , the enhanced low dose rate effects of bipolar devices are reviewed and analysis .

同期刊论文项目
同项目期刊论文
期刊信息
  • 《核电子学与探测技术》
  • 北大核心期刊(2011版)
  • 主管单位:中国核工业集团公司
  • 主办单位:中核(北京)核仪器厂
  • 主编:李卫国
  • 地址:北京经济技术开发区宏达南路3号
  • 邮编:100176
  • 邮箱:lw261@sina.com
  • 电话:010-59573451
  • 国际标准刊号:ISSN:0258-0934
  • 国内统一刊号:ISSN:11-2016/TL
  • 邮发代号:
  • 获奖情况:
  • 中国中文核心期刊,中国科协三等奖,中国核工业部二等奖
  • 国内外数据库收录:
  • 美国化学文摘(网络版),荷兰文摘与引文数据库,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:6170