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基于穷举和回溯的自反馈测试生成算法的实现
  • 期刊名称：微电子学与计算机. 已录用.
  • 时间：0
  • 分类：TP311[自动化与计算机技术—计算机软件与理论;自动化与计算机技术—计算机科学与技术]
  • 作者机构：[1]湖南大学计算机与通信学院,长沙410082
  • 相关基金：国家自然科学基金项目（60773207 60673085）
  • 相关项目：由被测电路自已产生测试向量的内建自测试技术研究
关键词： 内建自测试, 自反馈测试, 穷举, 回溯, 片上可编程系统, build-in self-test, self-feedback test, exhaustion, backtracking, SOPC
中文摘要：

提出了一种基于穷举和回溯的自反馈测试生成算法,并在Xilinx Virtex-ⅡPro开发环境下实现了测试生成算法.穷举和回溯算法用软件设计实现.算法中状态矩阵的计算和检测用硬件设计实现.系统的整体设计在型号为XC2VP30的实验板上进行了验证.

英文摘要：

This article proposed a self-feedback test generation algorithm based on the exhaustion and backtracking,and realized it in the development environment of Xilinx Virtex-Ⅱ Pro.The exhaustion and the backtracking algorithms were realized with the software,while the computation and the examination of state matrix in the algorithm were realized with the hardware.The system was validated on the XC2VP30 experiment board.

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