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体硅微机械惯性传感器与CMOS电路单芯片集成技术研究
  • 项目名称:体硅微机械惯性传感器与CMOS电路单芯片集成技术研究
  • 项目类别:面上项目
  • 批准号:50575001
  • 申请代码:E051201
  • 项目来源:国家自然科学基金
  • 研究期限:2006-01-01-2008-12-31
  • 项目负责人:闫桂珍
  • 负责人职称:教授
  • 依托单位:北京大学
  • 批准年度:2005
中文摘要:

微机械惯性传感器在惯性导航,工业控制,汽车、消费类电子产品等多个领域有着广泛的应用前景。本项研究提出了采用普通单晶硅衬底实现CMOS电路同体硅微机械惯性传感器机械结构集成的PostCMOS工艺方案,不但得到厚度达80um的体硅惯性器件,而且减小寄生效应,可以实现高性能集成体硅惯性传感器的批量加工。同时提出了机电一体化寄生效应分析和噪声模拟技术,并利用仿真软件ISE对有源器件温度退化效应进行模拟分析,从而通过优化设计进行补偿,为高性能集成体硅惯性传感器的设计提供了量化方法。本项研究的开展将推动我国MEMS集成化技术研究,为建立我国自主的微型惯性传感器批量加工能力铺平道路,具有重大的科学意义和显著的应用价值。


成果综合统计
成果类型
数量
  • 期刊论文
  • 会议论文
  • 专利
  • 获奖
  • 著作
  • 12
  • 5
  • 0
  • 0
  • 0
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