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InAs/GaSb超晶格红外探测材料的调制光谱研究
  • 项目名称:InAs/GaSb超晶格红外探测材料的调制光谱研究
  • 项目类别:面上项目
  • 批准号:61176075
  • 申请代码:F040501
  • 项目来源:国家自然科学基金
  • 研究期限:2012-01-01-2015-12-31
  • 项目负责人:邵军
  • 负责人职称:研究员
  • 依托单位:中国科学院上海技术物理研究所
  • 批准年度:2011
中文摘要:

红外探测事关国家战略安全。InAs/GaSb二类超晶格(T2SL)因其独有电子能带可剪裁性和高理论量子效率,成为近年国际红外探测研究热点。但是,关于T2SL基础研究仍相当有限,界面互扩散与厚度涨落、应力补偿、电子能带结构等因素对材料光学性能影响及其温度演化尚未得到解决。就国内而言,对这些问题全面理解更有助于尽快缩小与国际先进水平差距,推动材料器件性能提升。本项目创新点在于,基于我们红外调制光谱技术优势,形成针对InAs/GaSb T2SL弱PL/PR特征测试条件优化,分析带边能带结构,探索应力补偿、界面互扩散及与材料制备、层厚的关系,研究红外调制光谱及其温度、激发功率演化行为,建立光电响应截止波长无损非接触可靠预测判据,形成对我国InAs/GaSb T2SL材料器件研究的红外调制光谱技术支持,解决材料器件研发中若干机理问题,在红外调制光谱物理研究中取得新结果,助推国家重点实验室学科发展。

结论摘要:

基于新型红外调制光致发光(PL)和光调制反射(PR)光谱方法发展优势,通过优化变低温实验条件、实现低变温系列PL和PR光谱便捷可靠测量,形成对InAs/GaSb T2SL红外探测材料器件研究光电性能表征的红外调制光谱支持能力,建立界面互扩散、粗糙度/层厚涨落、应力补偿等因素对材料光学性能及温度相关性影响的物理图像,实现带边准直、电子能带结构等关键特性定量描述。培养5名研究生红外调制光谱能力,发表11篇标注资助SCI期刊论文,申请和获授权4项发明专利;为国内外多个知名研究组相关研究提供红外PL/PR光谱测试支持。


成果综合统计
成果类型
数量
  • 期刊论文
  • 会议论文
  • 专利
  • 获奖
  • 著作
  • 13
  • 4
  • 0
  • 0
  • 0
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