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An analytical model for high voltage thin-film silicon on insulator RESURF devices
  • 所属机构名称:电子科技大学
  • 会议名称:2010 10th IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology
  • 成果类型:会议
  • 会场:Shanghai, China
  • 相关项目:SOI高压器件荷致高场理论与新结构
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