位置:成果数据库 > 期刊 > 期刊详情页
绝缘层/有源层界面修饰及对有机薄膜晶体管性能的影响
  • ISSN号:1674-4926
  • 期刊名称:《半导体学报:英文版》
  • 时间:0
  • 分类:TN386[电子电信—物理电子学]
  • 作者机构:[1]上海大学新型显示技术与应用集成教育部重点实验室,上海200072, [2]上海大学材料科学与工程学院,上海201800
  • 相关基金:国家自然科学基金资助项目(批准号:90202034,60477014,60577041)
中文摘要:

制备了具有修饰层的有机薄膜场效应晶体管,采用高掺杂Si作为栅极,传统的无机绝缘材料SiO2作为栅绝缘层,有机绝缘材料PMMA或OTS作为修饰层,CuPc作为有源层,Au作为源、漏极.测试结果表明,采用经过修饰的栅绝缘层SiO2/OTS和SiO2/PMMA的两种器件的开关电流比最高可达8×10^4,迁移率最高为1.22×10^-3cm^2/(V·s),而漏电流仅为10^-10A,总体性能优于单层SiO2器件.

英文摘要:

Organic thin film transistors (OTFTs) with a modified gate insulator are demonstrated. The modified gate insulator layers consist of SiO2 as the gate insulator and OTS (octadecyltrichlorosilane) or PMMA (poly methyl methacylate) as the modified layer. The devices with the modified layer have a field-effect mobility larger than 10^-3cm^2/(V · s) and an on/ off current ratio greater than 10^4 , while their leakage current is decreased to 10^-10 A. The results demonstrate that using modified gate insulators is an effective method to fabricate OTFTs with improved electric characteristics.

同期刊论文项目
同项目期刊论文
期刊信息
  • 《半导体学报:英文版》
  • 中国科技核心期刊
  • 主管单位:中国科学院
  • 主办单位:中国电子学会 中国科学院半导体研究所
  • 主编:李树深
  • 地址:北京912信箱
  • 邮编:100083
  • 邮箱:cjs@semi.ac.cn
  • 电话:010-82304277
  • 国际标准刊号:ISSN:1674-4926
  • 国内统一刊号:ISSN:11-5781/TN
  • 邮发代号:2-184
  • 获奖情况:
  • 90年获中科院优秀期刊二等奖,92年获国家科委、中共中央宣传部和国家新闻出版署...,97年国家科委、中共中央中宣传部和国家新出版署三等奖,中国期刊方阵“双效”期刊
  • 国内外数据库收录:
  • 俄罗斯文摘杂志,美国化学文摘(网络版),荷兰文摘与引文数据库,美国工程索引,美国剑桥科学文摘,英国科学文摘数据库,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),英国英国皇家化学学会文摘,中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:7754