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Characterization of Changes in LDO Susceptibility after Electrical Stress
  • ISSN号:0018-9375
  • 期刊名称:IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility
  • 时间:2013.10.10
  • 页码:883-890
  • 相关项目:FeCMOS基本门电路辐照效应及机理研究
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